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详细说明
YF-CM系列激光位移传感器采用三角法测量原理,利用线阵CMOS器件作为光学接收器件,具有测量精度高、测量时间短等特点,适用于工业现场应用。YF-CM激光位移传感器是国内首款采用线阵CMOS的激光位移传感器。产品光路经过独特的产品设计,成像质量稳定;具有独特的补光技术;产品已获得国家专利,专利号:ZL201220510050.0。
【技术特点】
- 适用于短量程、高精度测量;
- 适用于漫反射表面测量;
- 内置控制器;
- 实时表面光路补偿技术;
- 模拟/数字信号输出;
【规格型号 技术参数】
规格型号 |
YF-CM10 |
YF-CM20 |
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线性量程(mm) |
10 |
20 |
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量程起点(mm) |
25 |
40 |
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量程中点(mm) |
30 |
50 |
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量程终点(mm) |
35 |
60 |
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非线性度 |
0.10% |
0.10% |
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分 辨 率 |
6um |
10um |
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测量频率 |
2.5KHz |
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光 源 |
半导体激光<1mW 650nm(红色) |
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激光安全等级 |
2级 |
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光斑直径(量程中点) |
1mm |
1.5mm |
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电源要求 |
10.8V-26V,<150mA |
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信号输出 |
RS232/RS485/4-20mA/0-10V |
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工作温度 |
-10℃-55℃ |
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储存温度 |
-25℃-70℃ |
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防护等级 |
IP65 |
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抗震性能 |
2g / 20 ... 500Hz |
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抗冲击性 |
15g / 6ms |
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重 量 |
~220g |
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外壳材料 |
铝合金氧化 |
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外形尺寸 |
28mm*66mm*86mm |
1 工件厚度在线测量
对于纸张、不干胶类、轧钢钢板、镀膜厚度,可以利用激光位移传感器进行快速精确实现在线测量。
2 工件表面形状检测
3 工件形变检测